Park 原子力顯微鏡 NX7
研究級原子力顯微鏡(AFM)，主要針對大學、研究機構、材料分析實驗室及半導體研發單位設計 其特色是在較具競爭力的預算下，仍保留 Park 最核心的奈米量測技術
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產品特色
- 專利 Orthogonal Scan System，採用XY 與 Z 軸獨立掃描架構，提供更平坦、更線性的掃描軌跡
- True Non-Contact™ 技術，降低探針磨耗與樣品損傷風險
- 超低噪音 Z Detector(0.02 nm )，提升量測可信度
- Fast Z Servo 與高線性 Z Scanner，確保奈米級精準量測，適用從超平坦薄膜到高粗糙樣品
產品資訊
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原廠名稱
Park -
製程名稱
研究單位/實驗室小樣品量測 -
英文名稱
NX7 -
產品細目
小樣品AFM
