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  • 製程
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Park 原子力顯微鏡 NX20(200mm)

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產品特色
  • 對樣品和基片進行表面光潔度量測,表面光潔度量測能够帶來精確的失效分析和品質保證。
  • 低雜訊Z探測器量測準確的樣品表面形貌,沒有壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
  • 超低雜訊Z探測器,譟音水准低於0.02 nm
產品資訊
  • 原廠名稱
    Park
  • 製程名稱
    8吋(200mmX200mm)大樣品量測
  • 英文名稱
    NX20(200mm)
  • 產品細目
    大樣品AFM
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