ficonTEC 全自動測試 Testline 系列
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產品特色
- 次微米等級精度
- 垂直與邊緣耦合小於 4 秒
- 耦合重複性小於 0.4 db
- 測試資料傳與下載
- Known good die 光電測試
產品資訊
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廠商名稱
ficonTEC -
製程名稱
光通訊設備 -
英文名稱
Wafer-level photonic device test -
產品細目
測試機 -
系列產品
WT800/WT1200/WT1600/WT2000 -
應用
全自動化主被動光電測試 (Automated test-&-qualify for passive/active devices) - 從驗證到小量生產之光電測試 (Proof-of-concept and low-complexity volume e/o test)
- Probe wafer 可快速測試 (MPW-capable due to adaptable probe-wafer layout)
- 可 Wafer format 或單星片測試 (Off-wafer device capable with suitable carrier formats)
- 光學共封裝模組測試 (Adaptable to high-complexity co-packaged applications)
- 通訊領域、感測器、光學雷達、3D 掃描 (For communications, sensors/lidar/IoT and 3D scanning)
