ficonTEC 全自动测试 Testline 系列
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产品特色
- 次微米等级精度
- 垂直与边缘耦合小于 4 秒
- 耦合重复性小于 0.4 db
- 测试资料传与下载
- Known good die 光电测试
产品信息
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原厂名称
finconTEC -
制程名称
光通讯设备 -
英文名称
Wafer-level photonic device test -
产品细目
测试机 -
系列产品
WT800/WT1200/WT1600/WT2000 -
应用
全自动化主被动光电测试 (Automated test-&-qualify for passive/active devices) - 从验证到小量生产之光电测试 (Proof-of-concept and low-complexity volume e/o test)
- Probe wafer 可快速测试 (MPW-capable due to adaptable probe-wafer layout)
- 可 Wafer format 或单星片测试 (Off-wafer device capable with suitable carrier formats)
- 光学共封装模块测试 (Adaptable to high-complexity co-packaged applications)
- 通讯领域、传感器、光学雷达、3D 扫描 (For communications, sensors/lidar/IoT and 3D scanning)
